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深圳市林上科技有限公司

便携式测厚仪LS221测量原理介绍

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一、磁感应测量原理介绍

林上LS221便携式测厚仪https://www.linshangtech.cn/tech/tech1367.html)就是采用磁性测厚法与涡流测厚法的原理制成的仪器。采用磁感应原理时,利用从测头通过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也能够测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻 越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上能够有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层资料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器主动输出测试电流或测试信号。

林上LS221便携式测厚仪参数:

测量原理      Fe:霍尔效应/NFe:电涡流效应

探头类型      外置连线式

测量范围      0.0-2000μm

分辨率  0.1μm:(0μm-99.9μm)

1μm:(100μm-999μm)

0.01mm:(1.00mm-2.00mm)

测量精度      ≤±(3%读数+2μm)

单位      μm / mil

测量间隔      0.5s

测量区域      Ø = 25mm

曲率半径      凸面:5mm 凹面:25mm

基体厚度      Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

显示      128×48点阵LCD

供电方式      2节 1.5V AAA碱性电池

工作温度范围     0℃ ~ 50℃

存储温度范围     -20℃~60℃

主机尺寸      101*62*28 mm

探头尺寸      71*26*22 mm

重量(含电池)      114g

二、电涡流测量原理介绍

高频沟通信号在测头线圈中发生电磁场,测头接近导体时,就在其间构成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。

与磁感应原理比较,首要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度联系不同。与磁感应测厚仪相同,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,容许过失1%,量程10mm的高水平。还有的便携式测厚仪采用的是超声波测厚的原理,不过这种测量原理的仪器测量精度不高。

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